Рентгеноструктурний аналіз (XRD) — це метод, який використовується в матеріалознавстві для визначити кристалографічну структуру матеріалу. XRD працює шляхом опромінення матеріалу рентгенівським випромінюванням, що падає, а потім вимірювання інтенсивності та кутів розсіювання рентгенівських променів, які залишають матеріал [1].
Рентгенівська дифракція (XRD) — це універсальний неруйнівний аналітичний метод, який використовується для аналізувати фізичні властивості, такі як фазовий склад, кристалічна структура та орієнтація порошкових, твердих і рідких зразків. Багато матеріалів складаються з крихітних кристалітів.
Ширина піків обернено пропорційна розміру кристала. Більш тонкий пік відповідає більшому кристалу. Ширший пік означає, що може бути менший кристал, дефект у кристалічній структурі або що зразок може бути аморфним за своєю природою, твердою речовиною без ідеальної кристалічності.
Рентгеноструктурний аналіз (XRD) проводили для визначення орієнтація, кристалічність, параметри решітки, чистота та розмір наночастинки. Він також використовується для узгодження фази наночастинок.
Детальніше XRD надає інформацію про розташування атомів у кристалічному матеріалі, а також розміри решітки, необ’ємні та об’ємні структури матеріалу.
Якщо ви посвітите на об’єкт яскравим світлом, він створить дифракційну картину, покидаючи зразок. Це тому, що світло відбивається від кожного атома всередині об’єкта, створюючи унікальне розташування світлих і темних плям. Цей шаблон потім можна використовувати для визначити атомну структуру самого об'єкта.